5月30日，由中国科学院地球化学研究所公共技术服务中心与TESCAN（泰思肯）公司联合举办的技术交流会在A2栋学术报告厅举行，来自地化所和外单位学者共计约50人参加会议。
近几十年来，随着科学发展和学科的交叉融合，科学研究工作对分析技术不断提出了新的需求。为了让全所从事科研技术工作的老师和同学了解仪器设备的最新技术和发展情况，中科院地化所公共技术服务中心与国内外大型仪器公司合作，不定期联合举办相关技术交流会，为大家提供开放的学习交流平台。
会上，地化所公共技术服务中心副主任凌宏文致欢迎辞。TESCAN公司重点介绍了All In One理念，即在常规的SEM-FIB+EDS+EBSD系统基础上，再增加Raman Spectrum Image以及TOF-SIMS、 AFM等多种表征系统，可以极大地提升扫描电镜系统的原位综合分析能力，利用扫描电镜可以进行TOF-SIMS质谱分析和Raman Spectrum Image拉曼分析。该项技术可以对样品进行常规的微区形貌、结构和成分分析，还可以原位对样品的分子结构、微量掺杂、分子取向、结晶度等微观性质全方位表征。
地化所公共技术服务中心副主任凌宏文致欢迎辞
TESCAN公司做介绍
本次交流会有幸邀请到澳大利亚国立大学的Terrance Mernagh博士为大家完成了题为“Raman Spectroscopic Studies of Minerals and Surfaces”的精彩报告。此外，所公共技术服务中心技术人员陈佑纬、李瑞老师分别详细介绍了大型精密仪器Nano-SIMS、FIB-SEM在地球科学中的应用。会议交流和讨论热烈，取得了预期效果。
交流会现场
FIB加工过程简介视频：
[video:FIB加工视频简介]
（SEM-FIB双束扫描电镜实验室 李瑞/供稿）